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LEADER |
02792nmm a2200337 u 4500 |
001 |
EB002219324 |
003 |
EBX01000000000000001356285 |
005 |
00000000000000.0 |
007 |
cr||||||||||||||||||||| |
008 |
240702 ||| ger |
020 |
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|a 9783031531521
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100 |
1 |
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|a Hassan, Muhammad
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245 |
0 |
0 |
|a Erweiterte virtuelle Prototypen für heterogene Systeme
|h Elektronische Ressource
|c von Muhammad Hassan, Daniel Große, Rolf Drechsler
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250 |
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|a 1st ed. 2024
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260 |
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|a Cham
|b Springer International Publishing
|c 2024, 2024
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300 |
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|a XX, 182 S. 89 Abb., 80 Abb. in Farbe
|b online resource
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505 |
0 |
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|a Einführung -- Vorbemerkungen -- AMS Metamorphic Testing Environment -- AMS Enhanced Code Coverage Verification Environment -- AMS Enhanced Functional Coverage Verification Environment -- Digital Early Security Validation -- Fazit
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653 |
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|a Electronics Design and Verification
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653 |
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|a Embedded Systems
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653 |
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|a Embedded computer systems
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653 |
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|a Electronic circuit design
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653 |
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|a Electronic circuits
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653 |
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|a Electronic Circuits and Systems
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700 |
1 |
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|a Große, Daniel
|e [author]
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700 |
1 |
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|a Drechsler, Rolf
|e [author]
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041 |
0 |
7 |
|a ger
|2 ISO 639-2
|
989 |
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|b Springer
|a Springer eBooks 2005-
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028 |
5 |
0 |
|a 10.1007/978-3-031-53152-1
|
856 |
4 |
0 |
|u https://doi.org/10.1007/978-3-031-53152-1?nosfx=y
|x Verlag
|3 Volltext
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082 |
0 |
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|a 621.3815
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520 |
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|a Dieses Buch beschreibt eine umfassende Kombination von Methoden, die den modernen Virtual Prototype (VP)-basierten Verifikationsfluss für heterogene Systems-on-Chip (SOCs) stark verbessern. Insbesondere kombiniert das Buch Verifikations- und Analyseaspekte über verschiedene Stufen des VP-basierten Verifikationsflusses hinweg und bietet eine neue Perspektive auf die Verifikation, indem es fortschrittliche Techniken wie metamorphes Testen, Datenfluss-Testen und Informationsfluss-Testen einsetzt. Darüber hinaus legt das Buch einen starken Schwerpunkt auf fortschrittliche, abdeckungsorientierte Methoden zur Verifizierung des funktionalen Verhaltens des SOC sowie zur Gewährleistung seiner Sicherheit. Bietet eine umfassende Einführung in den modernen VP-basierten Verifikationsablauf für heterogene SOCs; Stellt eine neuartige metamorphe Testtechnik für heterogene SOCs vor, die keine Referenzmodelle erfordert; Enthält automatisierte, fortschrittliche, auf Datenflussabdeckung basierende Methoden, die auf SystemC/AMS-basierte VP zugeschnitten sind; Beschreibt erweiterte funktionale abdeckungsgesteuerte Methoden zur Verifizierung verschiedener funktionaler Verhaltensweisen von RF-Verstärkern. Die Übersetzung wurde mit Hilfe von künstlicher Intelligenz durchgeführt. Eine anschließende menschliche Überarbeitung erfolgte vor allem in Bezug auf den Inhalt
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