Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen Simulation mit PSPICE

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie m...

Full description

Bibliographic Details
Main Author: Baumann, Peter
Format: eBook
Language:German
Published: Wiesbaden Springer Fachmedien Wiesbaden 2023, 2023
Edition:3rd ed. 2023
Subjects:
Online Access:
Collection: Springer eBooks 2005- - Collection details see MPG.ReNa
LEADER 03012nmm a2200337 u 4500
001 EB002164228
003 EBX01000000000000001302007
005 00000000000000.0
007 cr|||||||||||||||||||||
008 230601 ||| ger
020 |a 9783658409579 
100 1 |a Baumann, Peter 
245 0 0 |a Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen  |h Elektronische Ressource  |b Simulation mit PSPICE  |c von Peter Baumann 
250 |a 3rd ed. 2023 
260 |a Wiesbaden  |b Springer Fachmedien Wiesbaden  |c 2023, 2023 
300 |a XIV, 217 S. 225 Abb., 15 Abb. in Farbe  |b online resource 
505 0 |a Halbleiterdioden -- Bipolartransistoren -- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren -- Mos-Feldeffekttransisotoren -- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor -- Operationsverstärker -- Optokoppler -- NTC- und PTC-Sensoren -- RGB-Farbsensor -- Piezoelektrische Summer -- Ultraschallwandler 
653 |a Electronics and Microelectronics, Instrumentation 
653 |a Electric power production 
653 |a Electronic circuits 
653 |a Telecommunication 
653 |a Electrical Power Engineering 
653 |a Electronics 
653 |a Electronic Circuits and Systems 
653 |a Microwaves, RF Engineering and Optical Communications 
041 0 7 |a ger  |2 ISO 639-2 
989 |b Springer  |a Springer eBooks 2005- 
028 5 0 |a 10.1007/978-3-658-40957-9 
856 4 0 |u https://doi.org/10.1007/978-3-658-40957-9?nosfx=y  |x Verlag  |3 Volltext 
082 0 |a 621.381 
520 |a Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt. Der Inhalt Halbleiterdioden Bipolartransistoren Sperrschicht-Feldeffekttransistoren MOS-Feldeffekttransisotoren Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor Operationsverstärker Optokoppler NTC- und PTC-Sensoren RGB-Farbsensor Piezoelektrische Summer Ultraschallwandler Gassensoren Ionensensitiver Feldeffekttransistor Die Zielgruppen Studierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen Universitäten Ingenieure und Physiker in der Praxis Der Autor Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann arbeitete als Hochschullehrer für Elektronik an den Hochschulen in Mittweida und Zwickau und war als Lehrbeauftragter für Sensorschaltungen an der Hochschule Bremen tätig