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| LEADER |
00981nmm a2200217 u 4500 |
| 001 |
EB002147399 |
| 003 |
EBX01000000000000001285525 |
| 005 |
00000000000000.0 |
| 007 |
cr||||||||||||||||||||| |
| 008 |
230228 ||| ger |
| 245 |
0 |
0 |
|a DIN EN 60749-28 / VDE 0884-749-28
|h Elektronische Ressource
|b Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) – Charged Device Model (CDM) – Device Level (IEC 60749-28:2017)
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| 250 |
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|a Januar 2018
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| 260 |
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|a Berlin
|b VDE Verlag
|c 2018
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| 740 |
0 |
2 |
|a Deutsche Fassung EN 60749-28:2017
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| 740 |
0 |
|
|a Deutsche Fassung EN 60749-28:2017
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| 041 |
0 |
7 |
|a ger
|2 ISO 639-2
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| 989 |
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|b VDENORM
|a VDE NormenBibliothek
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| 088 |
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|a DIN EN 60749-28
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| 088 |
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|a VDE 0884-749-28
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| 856 |
4 |
0 |
|u https://www.normenbibliothek.de/vde-xaveropp/normenbibliothek/start.xav?start=%2F%2F*%5B%40attr_id%3D%270800467%27%5D
|x Verlag
|3 Volltext
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| 082 |
0 |
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|a 621
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