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LEADER |
00981nmm a2200217 u 4500 |
001 |
EB002147399 |
003 |
EBX01000000000000001285525 |
005 |
00000000000000.0 |
007 |
cr||||||||||||||||||||| |
008 |
230228 ||| ger |
245 |
0 |
0 |
|a DIN EN 60749-28 / VDE 0884-749-28
|h Elektronische Ressource
|b Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) – Charged Device Model (CDM) – Device Level (IEC 60749-28:2017)
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250 |
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|a Januar 2018
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260 |
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|a Berlin
|b VDE Verlag
|c 2018
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740 |
0 |
2 |
|a Deutsche Fassung EN 60749-28:2017
|
740 |
0 |
|
|a Deutsche Fassung EN 60749-28:2017
|
041 |
0 |
7 |
|a ger
|2 ISO 639-2
|
989 |
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|b VDENORM
|a VDE NormenBibliothek
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088 |
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|a DIN EN 60749-28
|
088 |
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|
|a VDE 0884-749-28
|
856 |
4 |
0 |
|u https://www.normenbibliothek.de/vde-xaveropp/normenbibliothek/start.xav?start=%2F%2F*%5B%40attr_id%3D%270800467%27%5D
|x Verlag
|3 Volltext
|
082 |
0 |
|
|a 621
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