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| LEADER |
10814nmm a2200421 u 4500 |
| 001 |
EB000684907 |
| 003 |
EBX01000000000000000537989 |
| 005 |
00000000000000.0 |
| 007 |
cr||||||||||||||||||||| |
| 008 |
140122 ||| ger |
| 020 |
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|a 9783662002421
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| 100 |
1 |
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|a Wolf, Helmut
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| 245 |
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|a Spannungsoptik
|h Elektronische Ressource
|b Ein Lehr- und Nachschlagebuch für Forschung, Technik und Unterricht
|c von Helmut Wolf
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| 250 |
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|a 1st ed. 1961
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| 260 |
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|a Berlin, Heidelberg
|b Springer Berlin Heidelberg
|c 1961, 1961
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| 300 |
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|a 68 Abb., 3 Abb. in Farbe
|b online resource
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|a 8.212 Zulässige Spannung ?zul bei der Einfriertemperatur -- 8.213 Temperatur, bei welcher der eingefrorene Spannungszustand wieder vollständig verschwindet -- 8.214 Zugfestigkeit -- 8.215 Druckfestigkeit -- 8.216 Biegefestigkeit -- 8.217 Zeitdehngrenzen und Zeitstandfestigkeit -- 8.218
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|a 6.52 Bezeichnungen -- 6.53 Die Ausgangsgleichungen -- 6.54 Vereinfachungen durch allgemeine Beziehungen -- 6.55 Die Neuberschen Gleichungen -- 6.56 Graphische Bestimmung der Isopachenkurven aus den Neuberschen Gleichungen -- 6.561 Bestimmung der Isopachenrichtung im Innern eines Modells -- 6.562 Bestimmung der Isopachen am Rand -- 6.563 Abstand der Isopachen -- 6.57 Allgemeine Eigenschaften der Isopachen -- 6.58 Isopachen am Rand -- 6.59 Isopachen an singulären Punkten und Asymptoten -- 6.6 Verfahren, die auf der unmittelbaren Messung von (?1 + ?2) bzw. der einzelnen Hauptspannungen ?1und ?2beruhen -- 6.61 Grundsätzliches über die Theorie und Anwendung der Lateralextensometer -- 6.62 Mechanische Lateralextensometer -- 6.63 Elektrische Lateralextensometer -- 6.631 Dickenmessung mit Hilfe von Dehnungsmeßstreifen -- 6.632 Dickenmessung mit Hilfe von induktiven Gebern -- 6.64 Interferenzoptische Verfahren -- 6.641 Optische Lateralextensometer --
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|a 6.3 Das Schubspannungsdifferenzverfahren -- 6.31 Zur Ermittlung der Schubspannungen -- 6.32 Ermittlung der Normalspannungen ?xund ?y längs eines geraden Schnittes -- 6.321 Normalspannung ?x -- 6.322 Normalspannung ?y -- 6.33 Rechenschema -- 6.34 Eine Methode zur genauen Bestimmung von % MathType!MTEF!2!1!+- % feaaguart1ev2aaatCvAUfeBSjuyZL2yd9gzLbvyNv2CaerbuLwBLn % hiov2DGi1BTfMBaeXatLxBI9gBaerbd9wDYLwzYbItLDharqqtubsr % 4rNCHbGeaGqiVu0Je9sqqrpepC0xbbL8F4rqqrFfpeea0xe9Lq-Jc9 % vqaqpepm0xbba9pwe9Q8fs0-yqaqpepae9pg0FirpepeKkFr0xfr-x %fr-xb9adbaqaaeGaciGaaiaabeqaamaabaabaaGcbaWaaSaaaeaacq % GHciITcqaHepaDaeaacqGHciITcaWG5baaaaaa!3B91!
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|a 7.23 Zusammenfassung der strengen statischen Ähnlichkeitsgesetze -- 7.3 Angenäherte Ähnlichkeit, insbesondere bei ebenen spannungsoptischen Untersuchungen -- 7.4 Zur Ermittlung der Modellgesetze bei beliebigen Problemen -- 7.5 Fehler bei spannungsoptischen Untersuchungen -- 7.6 Das „De Saint Venantsche Prinzip“ -- 8 Modellmaterial -- 8.1 Allgemeine Anforderungen an einspannungsoptisches Material -- 8.2 Charakteristische Größen zur Kennzeichnung spannungsoptischer Modellmaterialien -- 8.21 Elastizitätsmodul -- 8.22 Grenzspannung ?zul -- 8.23 Die spannungsoptische Konstante S -- 8.24 Die dehnungsop tische Konstante D -- 8.25 Die interferenzoptische Konstante I -- 8.26 Maximale Isochromatenordnung pro Modelldicke -- 8.27 Relative optische Kriechempfindlichkeit -- 8.28 Proportionalitätsabweichung des spannungsoptischen Effektes -- 8.29 Empfindlichkeit geg en Randeffekt -- 8.210 Temperatur für den Einfrierversuch -- 8.211 Elatizitätsmodul Eef bei der Einfriertemperatur --
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|a 2.1 Zusammenstellung verschiedener Polariskope -- 2.2 Die einfache spannungsoptische Anparatur -- 2.3 Zur physikalischen, photographischen und mechanischen Grundausrüstung eines spannungsoptischen Laboratoriums -- 2.31 Die eigentlichen Meßgeräte -- 2.32 Hilfsmittel zur Durchführung der Versuche -- 2.33 Photographische Aufnahmen (Dunkelkammer) -- 2.34 Versuchsvorbereitung und Modellherstellung (Werkstatt) -- 3 Das spannungsoptische Grundgesetz in zwei Dimensionen -- 3.1 Wirkung einer doppelbrechenden Platte zwischen gekreuzten Polarisatoren -- 3.11 Doppelbrechende Platte in linear polarisiertem Licht -- 3.12 Doppelbrechende Platte in zirkular polarisiertem Licht -- 3.2 Zeitliche Doppelbrechung -- 3.3 Isochromaten (Farbgleich en) und Isoklinen (Richtungsgleichen) -- 3.4 Die spannungsoptische Konstante und ihre experimentelle Bestimmung -- 3.41 Eichung imBiegeversuch -- 3.42 Eichung im Zugversuch -- 3.43 Eichung im Druckversuch -- 3.5 Zur Modelldicke --
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|a 4.61 Allgemeines -- 4.62 Bestimmung der Isochromatenordnung durch einfaches Abzählen (monochromatisches Licht) -- 4.63 Bestimmung der Isochromatenordnung aus der Farbe bei V erwendung von weißem Licht -- 4.64 Kompensation mittels Viertelwellenplatten und Polarisator — Analvsator -- 4.641 Allgemeines -- 4.642 Kompensation nach Sénarmont -- 4.642 Kompennsation naeh Tardy -- 4.65 Zug-, Kompression- und Biegekompensatoren -- 4.66 Kompensatoren nach Emuwonavs und Berem -- 4.67 Kompensator nach Brace-Köhler -- 4.68 Kompensatoren nach Babinet und Babinet-Soleil -- 4.69 Kompensation mit Interferometer-Einrichtung -- 4.7 Die Nagelprobe zur Bestimmung der Richtung von Grenzspannungen -- 4.8 Zur Verschärfnng und VervielfaChung vonISOchrOmatenn -- 4.81 Isochromatenverschärfung -- 4.82 Isochromatenvervielfachung -- 5 Isoklinen und Hauptspannungslinien -- 5.1 Isoklinen als Linien gleicher Hauptspannungsrichtungen -- 5.2 Die spannungsoptische Bestimmung der Isoklinen --
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|a 6.642 Allgemeines zur experimetellen Bestimmung der Isopachen -- 6.643 Verschiedene Verfahren der Isopachenbestimmung im durchgehenden Licht -- 6.644 Überblick über die Isopachenbestimmung durch Reflexion -- 6.645 Das Verfahren von A. Doseund R. Landwehr -- 6.645.1 Die Voraussetzungen und Grundlagen des Verfahrens -- 6.645.2 Versuchsaufbau -- 6.645.3 Modellmaterial -- 6.645.4 Modellherstellung und Modellbelastung.-6.645.5 Zur punktweisen experimentellen Bestimmung der Isopachen -- 6.645.6 Bestimmung der Isopachen über dem ganzen Feld -- 6.646 Zur direkten Bestimmung der einzelnen Hauptspannungen af interferenzoptischem Wege nach D. Post -- 6.646.1 Überblick -- 6.646.2 Die theoretischen Grundlagen des Verfahrens -- 6.646.3 Zur Versuchstechnik -- 6.65 Photometrisches DickenmeBverfahren zur Ermittlung der Hauptspannungssumme bei ebenen Modellen -- 6.66 Membran-Analogie 20 -- 6.67 Elektrische Analogieverfahren --
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|a 1 Die elastizitätstheoretischen und optischen Grundlagen -- 1.1 Verschiebungen und Verzerrungen am festen Körper -- 1.2 Spannungen am festen Körper -- 1.3 Zusammenhang zwischen Verzerrungen und Spannungen -- 1.4 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes in der Ebene -- 1.41 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes in rechtwinkligen Koordinaten -- 1.42 Die Differentialgleichungen des Gleichgewichtes entlang von Spannungstrajektorien -- 15 Licht als Querwelle. Reflexion und Brechung -- 1.6 Gewö hnliches und polarisiertes Licht -- 1.7 Die Erzeugung von polarisiertem Licht -- 1.8 Linear, zirkular und elliptisch polarisiertes Licht -- 1.9 Grundsätzlicher Aufbau und Wirkungsweise von gekreuzten Polarisatoren -- 1.10 Optisch aktive Stoffe, elektrische Doppelbrechung und Spannungsdoppelbrechung -- 1.101 Optisch aktive Stoffe -- 1.102 Elektrische Doppelbrechung -- 1.103 Spannungsdoppelbrechung -- 2 Die spannungsoptische Grundausrüstung --
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|a 5.3 Gren z bedingungen an lastfreien Rändern -- 5.4 Isoklinen bei symmetrischer Form und Belastung -- 5.5 Isoklinen an schubfreien Punkten -- 5.6 Konstruktion der Hauptspannungslinien aus den Isoklinen -- 5.7 Allgemeine Bemerkungen über Hauptspannungslinien -- 5.8 Einige einfache Beispiele von Isoklinen und Hauptsnannungslinien -- 5.81 Die durch Einzellast senkrecht belastete Halbebene -- 5.82 Die durch rechteckigen Belastungsstreifen senkrecht beanspruchte Halbebene -- 5.83 Platte mit zwei symmetrischen Kräften in der Plattenebene -- 5.84 Platte mit vier symmetrischen gleich großen Kräften in der Plattenebene -- 5.85 Der zweiseitig gekerbte Biegestab -- 5.86 Träger mit rechteckigem und dreieckigem Querschnitt -- 5.87 Isoklinen und Hauptspannungslinien beim einfachen Hammerkopffuß -- 6 Die wichtigsten Verfahren zur Bestimmung ebener Spannungszustände -- 6.1 Allgemeines zur Ermittlungen der einzelnen Haupts pannungen -- 6.2 Auswertungsverfahren nach Cokerund Filon --
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|a 6.68 Bestimmung der einzelnen Hauptspannungen durch das Anbohroder Lochverfahren bzw. das Einschlußverfahren -- 6.69 Das Moiré-Verfahren -- 6.7 Numerische Methoden zur Lösung der Laplaceschen Gleichung und damit Bestimmung von (?1 + ?2) -- 6.71 Allgemeine Betrachtungen zur numerischen Lösung der Laplaceschen Gleichung -- 6.72 Die grundlegenden Zusammenhänge -- 6.73 Die Methode der Iteration -- 6.731 Rechtwinkelige Begrenzungen -- 6.732 Unregelmäßige, nichtrechtwinkelige Begrenzungen -- 6.74 Weitere Methoden -- 6.741 Die Differenzenmethode -- 6.742 Die Relaxationsmethode -- 6.8 Einige Bemerkungen zu anderen Verfahren -- 7 Übertragung der Modellversuche -- 7.1 Allgemeine Bemerkungen zur Übertragung der Versuchsergebnisse vom Modell auf das Original -- 7.2 Die strengen statischen Ähnlichkeitsgesetze -- 7.21 Ableitung mit Hilfe der Dimensionsanalyse -- 7.22 Ableitung aus den elastizitätstheoretischen Grundgleichungen --
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|a 3.6 Einfarbiges und weißes Licht -- 4 Isochromaten -- 4.1 Allgemeine Betrachtungen -- 4.2 Isochromaten als Linien gleicher Hauptspannungsdifferenz und allgemeine Bestimmung der Isochromatenordnung -- 4.3 Isochromaten an lastfreien Rändern -- 4.4 Singuläre und isotrope Punkte -- 4.5 Einige einfache ebene Spannungszustände -- 4.51 Reiner Zug in Stäben -- 4.52 Reiner Druck in Stäben -- 4.53 Reine Biegung -- 4.54 Biegung mit Querkraft -- 4.55 Einzelkraft auf einseitig begrenzter Halbebene -- 4.56 Flächenhafter Kraftangriff auf Halbebene -- 4.57 Platte unter symmetrischer Druckbeanspruchung parallel zur Plattenebene -- 4.58 Gelochter Zugstab -- 4.59 Der zweiseitig gekerbte Zugstab -- 4.510 Der zwei- und einseitig gekerbte Biegestab -- 4.511 Abgesetzter Stab unter Biegebeanspruchung -- 4.512 Träger mit rechteckigem und dreieckigem Querschnitt -- 4.513 Haken -- 4.514 Schaufelfüße -- 4.515 Paßstück in Nut -- 4.516 Momentennullpunkte -- 4.6 Bestimmung der Isochromatenordnung --
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|a Quantum Optics
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|a Laser
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|a Electrodynamics
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|a Classical Electrodynamics
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|a Lasers
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|a Quantum optics
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|a ger
|2 ISO 639-2
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|b SBA
|a Springer Book Archives -2004
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|a 10.1007/978-3-662-00242-1
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| 856 |
4 |
0 |
|u https://doi.org/10.1007/978-3-662-00242-1?nosfx=y
|x Verlag
|3 Volltext
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| 082 |
0 |
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|a 537.6
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