DIN EN IEC 60749-28 / VDE 0884-749-28 Entwurf Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) – Charged Device Model (CDM) – Device Level (IEC 60749-28:2022)
Format: | eBook |
---|---|
Language: | German |
Published: |
Berlin
VDE Verlag
2024
|
Edition: | April 2024 |
Online Access: | |
Collection: | VDE NormenBibliothek - Collection details see MPG.ReNa |
Description not available. |