Fehlerdiagnose für Schaltnetze aus Modulen mit partiell injektiven Pfadfunktionen

In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung für Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests für die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test für die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch au...

Full description

Main Author: Marhöfer, Michael
Corporate Author: SpringerLink (Online service)
Format: eBook
Language:German
Published: Berlin, Heidelberg Springer Berlin Heidelberg 1987, 1987
Edition:1st ed. 1987
Series:Informatik-Fachberichte
Subjects:
Online Access:
Collection: Springer Book Archives -2004 - Collection details see MPG.ReNa
LEADER 03164nmm a2200325 u 4500
001 EB000671850
003 EBX01000000000000000524932
005 00000000000000.0
007 cr|||||||||||||||||||||
008 140122 ||| ger
020 |a 9783642727573 
100 1 |a Marhöfer, Michael 
245 0 0 |a Fehlerdiagnose für Schaltnetze aus Modulen mit partiell injektiven Pfadfunktionen  |h Elektronische Ressource  |c von Michael Marhöfer 
250 |a 1st ed. 1987 
260 |a Berlin, Heidelberg  |b Springer Berlin Heidelberg  |c 1987, 1987 
300 |a XIV, 172 S.  |b online resource 
505 0 |a 0 Einleitung -- 1 Testen digitaler Schaltungen -- 1.1 Testvorbereitung und Testdurchführung -- 1.2 Modellierung des Testobjekts -- 1.3 Bestimmung von Testmustern -- 1.4 Verbesserung der Testbarkeit -- 1.5 Abgrenzung der Aufgabenstellung -- 2 Entwicklung des Testkonzepts -- 2.1 Anforderungen an das Testkonzept -- 2.2 Im Testkonzept verwendete Voraussetzungen -- 2.3 Testkonzept -- 3 Mathematische Grundlagen und Hilfsmittel -- 3.1 Grundbegriffe -- 3.2 Schaltfunktionen -- 3.3 Logische Gleichungen -- 4 Beobachtung von Modul-Testergebnissen -- 4.1 Pfadfunktionen und Injektivität -- 4.2 Transparente Pfade -- 4.3 Relativtransparente Pfade -- 4.4 Modulare Beobachtungspfade -- 5 Entwurfsmaßnahmen zur Verbesserung der partiellen Injektivität -- 5.1 Verbesserung der Transparenz eines Moduls -- 5.2 Verbesserung der Relativtransparenz eines Moduls -- 6 Ein Verfahren zur Anwendung von Modultests aufgrund partiell injektiver Pfadfunktionen -- 6.1 Operationen zum Einstellen von internen Wertebel 
653 |a Electronics and Microelectronics, Instrumentation 
653 |a Logic design 
653 |a Electronics 
653 |a Microelectronics 
653 |a Logic Design 
710 2 |a SpringerLink (Online service) 
041 0 7 |a ger  |2 ISO 639-2 
989 |b SBA  |a Springer Book Archives -2004 
490 0 |a Informatik-Fachberichte 
856 |u https://doi.org/10.1007/978-3-642-72757-3?nosfx=y  |x Verlag  |3 Volltext 
082 0 |a 621.395 
520 |a In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung für Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests für die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test für die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch auf den prüfgerechten Entwurf modularer Schaltungen ein. In Analogie zum klassischen sensibilisierten Pfad, der 1 Bit Testinformation weiterleiten kann, wird der Pfadbegriff auf die parallele Weiterleitung von k Bit Testinformation verallgemeinert. Die Arbeit formalisiert dazu mehrere Klassen von partiell injektiven Pfadfunktionen; daraus werden Kriterien für die Mindesteigenschaften von pfadbildenden Modulen und Algorithmen zum Bilden solcher k-Bit-Pfade abgeleitet. Ziel des Buches ist es, Modultests, die mit speziellen Fehlermodellen und Verfahren in hoher Qualität erzeugbar sind, auch in umfangreichen, modularen Schaltungen anzuwenden. Das Buch liefert dafür die theoretischen Grundlagen und die wesentlichen Algorithmen, die in einer Teilimplementierung auch erprobt wurden