| Summary: | Die Akzeptanz mikroelektronischer Systemlösungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen hängt in starkem Maße von der Fehlerfreiheit und Zuverlässigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gewährleisten. Nur durch konsequentes Testen aller gefertigten Baugruppen und ICs können die um den Faktor 400 schärferen Anforderungen an die Fehlerfreiheit erfüllt werden. Die Komplexität heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen Überblick über die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formulierung der Testaufgabe zieht sich dabei von Beginn an als roter Faden durch alle Kapitel des Buches, beginnend bei der Fehlermodellierung über die Testmusterberechnung, Fehlersimulation und Testbarkeitsanalyse hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf
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