Mustererkennung 2000 22. DAGM-Symposium. Kiel, 13.–15. September 2000

Die Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung veranstaltet seit 1978 jährlich an verschiedenen Orten ein wissenschaftliches Symposium mit dem Ziel, Aufgabenstellungen, Denkweisen und Forschungsergebnisse aus den Gebieten der Mustererkennung vorzustellen, den Erfahrungs- und Ideenaustausch zwi...

Full description

Bibliographic Details
Other Authors: Sommer, Gerald (Editor), Krüger, Norbert (Editor), Perwass, Christian (Editor)
Format: eBook
Language:German
Published: Berlin, Heidelberg Springer Berlin Heidelberg 2000, 2000
Edition:1st ed. 2000
Series:Informatik aktuell
Subjects:
Online Access:
Collection: Springer Book Archives -2004 - Collection details see MPG.ReNa
Description
Summary:Die Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung veranstaltet seit 1978 jährlich an verschiedenen Orten ein wissenschaftliches Symposium mit dem Ziel, Aufgabenstellungen, Denkweisen und Forschungsergebnisse aus den Gebieten der Mustererkennung vorzustellen, den Erfahrungs- und Ideenaustausch zwischen den Fachleuten anzuregen und den Nachwuchs zu fördern. In dem dieses Jahr erstmals durchgeführten Kontaktforum unter dem Titel "Forum Industrie und Wissenschaft" findet der Austausch von Industrie und Wirtschaft besondere Beachtung
Physical Description:XV, 490 S. 454 Abb online resource
ISBN:9783642598029