Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

Bibliographic Details
Main Author: Bünau, Günther˜ vonœ
Format: eBook
Language:German
Published: Wiesbaden VS Verlag für Sozialwissenschaften 1981, 1981
Edition:1st ed. 1981
Series:Fachgruppe Physik, Chemie, Biologie
Subjects:
Online Access:
Collection: Springer Book Archives -2004 - Collection details see MPG.ReNa
Description
Physical Description:23 S. 37 Abb online resource
ISBN:9783322875280